矢量網絡分析儀與噪聲系數分析儀在微波半導體芯片中的測試解決方案（下）

　　上篇文章我們講述了系統組成和測試原理的前兩個步驟，本文安泰測試繼續為大家介紹剩余部分。

       2.3 系統測試

　　(1)連接測試芯片

　　將噪聲源輸出端口連接到測試線纜，另一根線纜連接噪聲系數分析儀輸入端口。取下在片校準片，替換為低噪聲放大器芯片，用直流電源為其供電，同時對載物臺接地。低噪聲放大器顯微圖片和測試連接示意圖如圖5所示。

　　圖5 低噪聲放大器測試連接

　　(2)測試結果及分析

　　3986噪聲系數分析儀提供圖形、表格、測試儀三種顯示格式，可根據需求選擇對應格式。在本次試驗中，通過【格式】→[顯示格式]→[圖形]設置，查看當前測試數據的曲線圖;通過【格式】→[顯示格式]→[表格]設置，查看當前測試數據的表格數據。低噪聲放大器芯片噪聲系數、增益測試曲線和表格數據如圖6所示。

　　圖6 低噪聲放大器芯片噪聲系數、增益測試曲線和表格數據

　　已知該低噪聲放大器芯片噪聲系數典型值為1.05dB，增益為24dB。將測得的數據寫入excel制成曲線(右)，與廠家提供的典型曲線(左)對比。噪聲系數測試曲線對比如圖7所示，增益測試曲線對比如圖8所示。曲線重合度較高。

　　圖7 噪聲系數測試結果與典型曲線對比

　　圖8 增益測試結果與典型曲線對比

　　總結

　　本次對低噪聲放大器的測試，可應用于低噪聲放大器芯片的生產測試環節，為保證測試的準確性，需要注意以下內容：

　　(1)3986噪聲系數分析儀進行噪聲系數和增益的測試，測試前要先連接噪聲源進行主機校準，然后輸入損耗補償值。不推薦直接使用噪聲系數分析儀測試附件插損。

　　(2)3672矢量網絡分析儀用作系統校準，測試探針、線纜整體的S21，計算損耗補償值。因此在校準前需要充分預熱，保證校準數據可反復使用。

　　(3) 采用標量二分的方法補償系統附件插損，DUT前和DUT后均等于-|S21|/2，因此需要探針和電纜具有較好的對偶一致性。

　　中電科思儀3672系列矢量網絡分析儀

       我們用兩篇文章講述了矢量網絡分析儀與噪聲系數分析儀在微博半導體芯片中的測試解決方案，希望對大家有幫助。歡迎關注安泰測試，了解更多儀器儀表知識。