任意波形/函數(shù)發(fā)生器的5種常見測試應(yīng)用

　　一提到進行電子測量，您首先想到的可能就是采集儀器(通常是示波器或邏輯分析儀)。但是，只有在能夠采集某類信號時，這些工具才能進行測量。在許多情況下，除非是從外部提供，否則是沒有這些信號的。

　　任意波形發(fā)生器(AFG)它生成標準形狀的穩(wěn)定波形，如正弦波、方波、脈沖波、三角波、等等。此外，它允許用戶利用自己定義的形狀，生成所謂的任意波形。而且 AFG 提供了一種方式，可以調(diào)制來自內(nèi)部信號源或外部信號源的信號，生成掃頻或輸出信號突發(fā)。

　　具體選擇取決于提供的與DUT及其輸入要求有關(guān)的信息，而不管是需要增加失真還是需要增加錯誤信號或其它變量。

　　任意波形/函數(shù)發(fā)生器的10種常見測試應(yīng)用

　　01、測試電路板的時鐘頻率工作范圍

　　代替沒有的時鐘源，對設(shè)備進行功能測試，這種測試適用于開發(fā)嵌入式和數(shù)字通信電路的電子測試和設(shè)計工程師。

　　技巧和提示

　　(a)可以使用帶浮動單端輸出的雙通道信號源，生成差分時鐘信號，如 PECL、LVPECL 或 LVDS。

　　(b)為生成差分信號，在 Channel 1 中配置波形、頻率和幅度，通過 CH1 Complement 功能，把倒置設(shè)置復(fù)制到 Channel 2。然后把 Frequency CH1=CH2 設(shè)置為 On，啟動 Align Phase，激活同步模式。

　　(c)使任何機載時鐘源失效，同時使用外部時鐘源驅(qū)動器件。

　　(d)為避免信號完整性劣化，如振鈴或可變延遲和幅度，注意連接信號源的探頭與電路板軌跡的阻抗要充分匹配。

　　02、檢定邏輯器件-定時余量測試

　　通過使用數(shù)據(jù)和時鐘信號仿真邏輯器件，檢定建立時間和保持時間。

　　技巧和提示

　　(a)創(chuàng)建兩個同步脈沖，一個是時鐘脈沖，一個是數(shù)據(jù)信號脈沖，數(shù)據(jù)脈沖要比時鐘脈沖寬。

　　(b)先把數(shù)據(jù)脈沖前沿放在活動時鐘邊沿上，然后相對于數(shù)據(jù)邊沿延遲時鐘邊沿，直到器件輸出數(shù)據(jù)正在寄存的信號，這是建立時間。

　　(c)留下數(shù)據(jù)脈沖前沿不變，降低數(shù)據(jù)后沿與活動時鐘邊沿之間的延遲(通過降低數(shù)據(jù)脈寬實現(xiàn))，直到數(shù)據(jù)不再寄存，這是保持時間。

　　(d)注意建立時間和保持時間取決于數(shù)據(jù)和時鐘信號的上升時間、輸入電壓電平及工作電壓和溫度。為獲得相關(guān)測試結(jié)果，設(shè)置這些參數(shù)，以與正常工作條件相匹配。

　　03、測量鎖相環(huán)(PLL)電路的帶寬和抖動轉(zhuǎn)函

　　這種適用于電子設(shè)計和測試工程師、開發(fā) PLL 的半導(dǎo)體公司、數(shù)據(jù)通信設(shè)備制造商。

　　技巧和提示

　　使用脈寬調(diào)制，生成帶有精確抖動量的時鐘信號，仿真 PLL，測量其抖動容限和抖動轉(zhuǎn)函。

　　04、檢定工放器

　　用于測量工放器和緩沖電路的位移、增益、過沖、轉(zhuǎn)換速率性能。

　　技巧和提示

　　(a)為生成差分信號，在 Channel 1 中配置波形、頻率和幅度，通過 CH1 Complement 功能，把倒置設(shè)置復(fù)制到 Channel 2。然后把 Frequency CH1=CH2 設(shè)置為 On，啟動 Align Phase，激活同步模式。

　　(b)由于工放器可能會以不對稱方式工作，即對輸入脈沖的前沿與后沿響應(yīng)不同，因此激勵源應(yīng)擁有可以獨立調(diào)節(jié)的上升時間和下降時間。

       以上就是任意波形 / 函數(shù)發(fā)生器的常見的5種測試應(yīng)用，你get到了嗎？如果您在使用儀器中有任何問題，歡迎訪問安泰測試。