吉時利源表助力半導(dǎo)體分立器件I-V特性測試

近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢I-V特性測試， I-V特性測試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對象，分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù)，并在整個工藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。

I-V特性測試難點(diǎn)：

種類多

微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相同，此外，新材料和新器件對測試設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。

尺寸小

隨著器件幾何尺寸的減小，半導(dǎo)體器件特性測試對測試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微鏡性能都提出了更高的要求。

I-V特性測試方案： 

針對I-V 特性測試難點(diǎn)，安泰測試建議可采用keithley高精度源測量單元（SMU）為核心測試設(shè)備，配備使用簡便靈活、功能豐富的 CycleStar 測試軟件，及精準(zhǔn)穩(wěn)定的探針臺。

圖：系統(tǒng)配置連接示意圖

測試功能：

這是一個簡單易用的I-V特性測試方案，無論對于雙端口或三端口器件，如二極管、晶體管、場效應(yīng)管都很適用。

? 二極管特性的測量與分析

? 雙極型晶體管 BJT 特性的測量與分析

? MOSFET 場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析

? MOS器件的參數(shù)提取 

吉時利源表簡介及熱門型號推薦：

吉時利源表將數(shù)字萬用表 (DMM)、電源、實(shí)際電流源、電子負(fù)載和脈沖發(fā)生器的功能集成在一臺儀器中。通過吉時利源表進(jìn)行分立器件 I-V 特性測試時，支持同時操作兩臺吉時利源表，輕松完成三端口器件測試。此外，因?yàn)榧獣r利源表兼顧高精度和通用性，廣泛適用于教育、科研、產(chǎn)業(yè)等眾多行業(yè)。

安泰測試作為泰克吉時利長期合作伙伴，為多家院校，研究所提供了I-V特性測試方案，并提供了吉時利源表現(xiàn)場演示，如果您也有相關(guān)應(yīng)用，歡迎關(guān)注安泰測試網(wǎng)。